Best of NEW YORK - 66 Highlights - Ein Bildband mit über 170 Bildern - STÜR ...
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Autor:Thomas Jeier (Autor),Christian Heeb (Fotograf)
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Seiten:140
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Gewicht:983
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Einband:Gebundene Ausgabe
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Format:307x251x17 mm
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Marke:Verlagshaus Würzburg - Stürtz
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Fachbereich:Hardcover/Reise/Bildbände/Nordamerika, Mittelamerika
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Publikationstitel:Best of NEW YORK - 66 Highlights - Ein Bildband mit über 170 B...
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Erscheinungsjahr:2013
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Produktart:Bücher
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Buchtitel:Best of NEW YORK - 66 Highlights - Ein Bildband mit über 170 B...
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Publikationsname:Best of NEW YORK - 66 Highlights - Ein Bildband mit über 170 B...
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Musiktitel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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EAN:9783800349005
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Verlag:StRtz Verlag, Stürtz Verlag
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Ausgabejahr:2013
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Sprache:Deutsch
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Zeitschriftentitel:Best of New York-66 Highlights
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