High-Resolution X-Ray Scattering | Ulrich Pietsch (u. a.) | Buch | xvi | 2004
95,95 €
Titel: High-Resolution X-Ray Scattering | Zusatz: From Thin Films to Lateral Nanostructures | Medium: Buch | Autor: Ulrich Pietsch (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xvi / 408 S. / 389 s/w Illustr. / 408 p. 389 illus. | Auflage: 2nd ed. | Sprache: Englisch | Seiten: 408 | Abbildungen: 275 illustrations | Reihe: Advanced Texts in Physics | Maße: 244 x 165 x 22 mm | Erschienen: 27.08.2004 | Anbieter: MEOVERSA.
Jetzt bei Ebay:
