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Noncontact Atomic Force Microscopy by Roland Wiesendanger (English) Hardcover Bo

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Principles of NC-AFM. - Semiconductor Surfaces. - Bias Dependence of NC-AFM Images and Tunneling Current Variations on Semiconductors. - Alkali Halides. - Atomic Resolution Imaging on Fluorides.

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ISBN-13:

9783540431176
Book Title:

Noncontact Atomic Force Microscopy
ISBN:

9783540431176

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