Studies on structural and dielectric properties of ¿-Ga2O3 thin films | Lee
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In this study we report on structural and electric properties of ¿-Ga2O3 on Si and GaN substrates. Since Ga2O3 has a band-gap of 4.8 eV at room temperature and a dielectric constant of 10.2~14.2, Ga2O3 can be a potential candidate dielectrics for MIS devices.
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Buchtitel:Studies on structural and dielectric properties of ¿-Ga2O3 thin f
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Autor:Sang A Lee
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Sprache:Englisch
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Erscheinungsjahr:2014
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Anzahl der Seiten:136
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Marke:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Hersteller:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Verlag:LAP LAMBERT Academic Publishing
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Format:Taschenbuch
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Genre:Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
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Schlagworte:Elektrizität, Magnetismus, Optik, Magnetismus und Elektromagnetis
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Herstellungsland und -region:Deutschland
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ISBN:3659638919
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